Header image  
   
  HOME
   
 

Backplane & Rack test oplossingen

 

small product photo   small product photo        
WK324 serie
  W35xx serie
 
 

Een praktisch probleem bij het testen van o.a. backplanes is vaak het aansluiten van uw testobject aan het testsysteem. Dure, storingsgevoelige tussen adapters waren tot voor kort de enige oplossing voor dit probleem. De W3xx Backplane testers maken voor eens en altijd een einde aan dit probleem. Dankzij de Daisy-chain matrix krijgt u een rechtstreekse verbinding met uw te testen backplane, kaartkooi of rack. Hiermee vervalt het probleem van lange aansluitkabels, wat ten goede komt aan de testsnelheid en meetnauwkeurigheid.
Specificaties

    • Doorgangstest vanaf 2 Ohm, vanaf 0.3 Ohm in "High Precision " mode.
    • Isolatietest tot 100 MOhm met testspanningen tot 250 VDC.
    • Handmatige, halfautomatische of volautomatische adapteermogelijkheid.
    • Aantal testpunten tot meer dan 200.000